结晶度是表征晶体物质的重要参数，也是客观评价物质性能的重要指标之一，其测定方法主要有X射线衍射法、差热分析法、红外光谱法、核磁共振法等。然而现有的各种测量方法均有一定的局限性和问题，如过程复杂，需要高精度仪器等。国内数家机构的研究者近日联手攻克了这一难题，开发出一种新方法，既能快速准确测量结晶度，又操作简单，降低了相关成本。
据介绍，新方法是通过建立物质结晶度与荧光原理的关系进行测定。一般来说，物质结晶度越高，荧光效率也就越高。其核心流程是，将待测物质制成一定粒度的粉末，然后将其置于荧光测量仪中进行测量。通过测量所得的荧光强度和特定参数之间的关系即可得到该物质的结晶度。
该方法具有操作简单快捷的特点，并且测量结果准确可靠，适用于多种物质结晶度的测定，具有广阔的应用前景。
